一款突破市场常规性的干法激光粒度仪

　　干法激光粒度仪过程控制系统,作为主要的粒度分析方式已经有20多年了，随着生产的发展，越来越多的实际工艺过程需要实时掌控和了解具体的生产状况，这就要求干法激光粒度仪粒度检测能够在生产线上实时给出测试结果和提供反馈信号，来控制生产线上相关设备的运行，达到工业控制*自动化。

　　干法激光粒度仪特点：

　　·特殊设计的取样系统TWISTER，可在整个横截面上连续取样，确保取到具有代表性的样品；干法激光粒度仪内置RODOS干法分散系统，能将物料*分散成单个颗粒；采用同实验室激光粒度仪相同的光学元器件，全自动背景测试，确保获得高精度的测试结果，和实验室测试结果有很好的可比性；测试结果的信号及时反馈到控制系统，实现闭环控制；根据不同的过程控制方式分为：in-line系统、on-line系统和at-line系统。

　　干法激光粒度仪in-line系统的特点：

　　取样系统和分散测试系统全部安装在工业生产管道中，保证取样的代表性和测试结果不受外界环境的任何干扰，随时了解生产状况和生产工艺控制；干法激光粒度仪on-line系统的特点：
                              

　　取样在管道中自动进行，物料输送到一旁的分散测试系统中，一个测试系统可以控制多条管道上的生产过程分析。在保证分析精度的前提下，大幅度提高设备和资金的利用率。

　　干法激光粒度仪at-line系统的特点：

　　通过机械手将样品从生产线上取出，送到进样器中，自动完成样品的测试，*实现智能化操作，减少人为取样误差。

　　干法激光粒度仪在线激光粒度仪采用的会聚光傅立叶变换光路，克服了透镜孔径对散射角的限制，采用样品池，增加侧向及后向光电探测器的方式对各个方位的散射（前向、侧向以及后向）光信息进行全面的采集，而有效地提高了对纳米及亚微米颗粒的测试准确度；并且干法激光粒度仪采用无约束自由拟合反演软件，对任意分布的颗粒群均给出真实的分析结果，对生产线上的样品均可以做到实时给出分析数据，方便对生产流程进行控制，大大提高了仪器的实用性。

　　干法激光粒度仪在气体激光器(L)发出的激光经扩束(S)滤波(F)成为发散的找而波照射在变换诱镜(F T)上, 然后会聚在光电探测器(D)的中心, 由于被测物体(P)是准球形的颗粒。因而探测器阵列为同心环状。流动样品池置于干法激光粒度仪透镜之后, 且位置沿导轨方向可调。整个光路的特点是：

　　(1)球面波系统和激尤器转置, 光路长度压缩1/2，使得干法激光粒度仪小型化, 便携式成为可能。

　　(2)干法激光粒度仪透镜孔径不再成为限制散射光的主要因素, 因而可以大大缩小其有效孔径。

　　(3)样品池后置, 可以尽量接近探测器阵列, 大大提高了干法激光粒度仪可测的空间, 因而系统可分辨的zui小粒径达列0. 1um。

　　(4)样品池在镜头与探恻器咕列之间可连续移动, 相当于在保持信息处理能力不变的前提下连续改变系统的等效焦距, 使得干法激光粒度仪不换透镜改变量程成为可能。

　　(5)探测器阵列的单元数目一定, 等效焦距越短测量粒度范围越窄, 系统对颗粒的分解能力就越高, 本系统在2μm以下可以分解为12个粒度级, 此功能在平面波照明的激光粒度仪是很难实现的。干法激光粒度仪的光路设计、充分体现了信息处理能力(空间带宽积)在焦平面探测系统研究中的重要地位。

　　干法激光粒度仪先进的测试原理、*的计算模式以及高超的，使该款仪器具有在线实时监测、测试结果准确、测试重复性好以及测试速度快等突出优点，真正实现了干法激光粒度仪在线、准确、重复、灵敏的结合。