超细化、纳米化是现代粉体材料研究和生产的趋势,为满足对这些材料的粒度分析,激光粒度仪的测量范围也向超细化、纳米化方向发展,所以现代高性能的激光粒度仪的测量下限已经达到 20nm 甚至 10nm,而样品折射率(包括收率)是Mie散射求解的一个重要条件,如果折射率错误,将导致粒度测试结果错误。随着新材料、合成材料以及混合材料越来越多,用常规手段测试这些材料的折射率很困难,这是粒度测试遇到的难题。为解决这个难题,百特研制成功了利用高性能激光粒度仪测量样品折射率的方法,在粒度测试前先测量折射率和吸收率,保证了对新材料粒度测试的准确性,收到了很好的效果。